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Improvement of Iris Recognition Based on Iris-Code Bit-Error Pattern Analysis

AutorRathgeb, C.; Busch, C.
Datum2017
ArtConference Proceedings
InIntl. Conf. of the Biometrics Special Interest Group (BIOSIG), p.1-6
SchlüsselRathgeb-ImprovementIrisRecognition-BitErrorPatternAnalysis-BIOSIG-2017

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